发明名称 |
提拉法单晶硅生长流场控制技术 |
摘要 |
本发明技术是一种提拉法单晶硅生长流场控制技术。主加热器形成一个从熔体外侧向中心的自然对流Gr,通过坩埚的旋转,将使坩埚外侧熔体往中心的流动Tc。晶体的旋转,形成一个强迫对流Re,在坩埚的底部加一个底部加热器,加热器为双螺旋渐开线形结构,随坩埚同步上下移动。底部加热器使坩埚的底部的温度高于四周的温度,形成一个从中心向上的对流Gz。通过控制 <img file="dest_path_image001.GIF" wi="106" he="15" />将熔体分成内外两个流场区域,交汇在晶体与坩埚壁的中间区域,最佳点位置为<img file="dest_path_image003.GIF" wi="70" he="21" />,从而控制晶体生长界面处的温度分布和熔体中氧分布,再通过提拉速度,进而控制晶体中的元素均匀性。 |
申请公布号 |
CN105239154A |
申请公布日期 |
2016.01.13 |
申请号 |
CN201510573377.0 |
申请日期 |
2015.09.10 |
申请人 |
上海超硅半导体有限公司 |
发明人 |
张俊宝;山田宪治;刘浦锋;宋洪伟;陈猛 |
分类号 |
C30B15/20(2006.01)I;C30B29/06(2006.01)I |
主分类号 |
C30B15/20(2006.01)I |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
一种提拉法单晶硅生长流场控制技术,主加热器形成一个从熔体外侧向中心的自然对流Gr,通过坩埚的旋转,将使坩埚外侧熔体往中心的流动Tc;晶体的旋转,形成一个强迫对流Re,在坩埚的底部加一个底部加热器,使坩埚的底部的温度高于四周的温度,形成一个从中心向上的对流Gz;通过控制<img file="dest_path_image001.GIF" wi="95" he="16" />将熔体分成内外两个流场区域,交汇在晶体与坩埚壁的中间区域,最佳点位置为<img file="dest_path_image002.GIF" wi="73" he="22" />,从而控制晶体生长界面处的温度分布和熔体中氧分布,再通过提拉速度,进而控制晶体中的元素均匀性。 |
地址 |
201604 上海市松江区石湖荡镇养石路88号 |