发明名称 |
高分子材料的评价方法 |
摘要 |
提供高分子材料的评价方法,由此高分子材料中的填料的分散状态可被快速并定量地评价。一种高分子材料的评价方法,所述高分子材料包含高分子化合物和填料并且具有平滑表面至少作为其上表面。通过使用聚焦离子束(FIB)(10),沿相对于高分子材料的表面为1至60°角(α)的方向切割高分子材料(1)。然后,从垂直于平滑表面的方向摄取高分子材料的平滑表面(1A)的图像,所述平滑表面(1A)通过切割而形成。 |
申请公布号 |
CN103348236B |
申请公布日期 |
2016.01.13 |
申请号 |
CN201280008199.1 |
申请日期 |
2012.02.08 |
申请人 |
株式会社普利司通 |
发明人 |
中村智;黑谷雄司;田边龙朗;五十岚贵亮 |
分类号 |
G01N23/225(2006.01)I;G01N1/28(2006.01)I;G01N33/44(2006.01)I |
主分类号 |
G01N23/225(2006.01)I |
代理机构 |
北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 |
代理人 |
刘新宇;李茂家 |
主权项 |
一种高分子材料的评价方法,所述高分子材料包含高分子化合物和填料,至少所述高分子材料的上表面为平坦的表面,所述方法包括:使用聚焦离子束沿相对于所述高分子材料的上表面为1至60°角的方向切割所述高分子材料的上表面;然后沿垂直于通过所述切割形成的相对于所述高分子材料的上表面为1至60°角倾斜的所述高分子材料的平滑表面的方向拍摄所述平滑表面。 |
地址 |
日本东京都 |