诊断工具-一种增加良率提升制程之产量的方法

摘要

明揭示一种用于在一积体电路(IC)中产生候选故障电路的方法。该方法包含由该IC的至少一个失效输出回溯追踪来使用自该IC的一设计之一无故障模拟所得到的模拟数值，针对每一个失效输出决定一相对应扇入锥。另外，其包含针对每一个失效输出决定第一组的嫌疑故障候选者，其中每一嫌疑故障候选者可能对应于在该IC中一有缺陷元件。接着，其包含由在该第一组中每一个嫌疑者向前追踪来决定第二组的嫌疑者，其为该第一组的一较狭窄的子集合。最后，其包含由该IC设计辨识出一失效方块，其中该失效方块包含来自该第二组的嫌疑故障候选者，并可独立于该完整设计来做模拟。

主权项

一种用于在一积体电路中产生候选失效电路的方法，该方法包含：由该积体电路的至少一个失效输出回溯追踪来使用自该积体电路的一设计之一无故障模拟所得到的模拟数值，针对每一个失效输出决定一相对应扇入锥；针对每一个失效输出决定一第一组嫌疑故障候选者，其中每一嫌疑故障候选者可能对应于在该积体电路中负责在一相对应失效输出处产生一失效结果的一缺陷；自该第一组中每一嫌疑故障候选者前向追踪来决定一第二组嫌疑故障候选者，其中该第二组为该第一组的一较狭窄的子集合，且其中在该第二组中每一嫌疑故障候选者比在该第一组中每一嫌疑故障候选者要有较高的可能性会对应到该积体电路中一缺陷；及自该积体电路的该设计辨识一失效方块，其中该失效方块包含来自该第二组的嫌疑故障候选者，且其中该失效方块可独立于该设计做模拟。