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<p>Fehler-Detektionsvorrichtung für eine Halbleitervorrichtung, wobei die Fehler-Detektionsvorrichtung Folgendes aufweist:–eine erste Fehlerdetektionsschaltung (21) mit einer Strom-/Spannungs-Wandlerschaltung, deren invertierender Eingangsanschluss mit einem Stromdetektionsanschluss verbunden ist, wobei die erste Fehlerdetektionsschaltung (21) dazu ausgebildet ist, eine Ausgangsspannung der Strom-/Spannungs-Wandlerschaltung mit einer ersten Referenzspannung zu vergleichen und ein erstes Fehlersignal auszugeben; und–eine zweite Fehlerdetektionsschaltung (22), die dazu ausgebildet ist, eine Spannung an dem invertierenden Eingangsanschluss (61) der Strom-/Spannungs-Wandlerschaltung mit einer zweiten Referenzspannung zu vergleichen, die höher vorgegeben ist als eine Spannung am invertierenden Eingangsanschluss der Strom-/Spannungs-Wandlerschaltung in dem Zustand, in welchem ein virtueller Kurzschluss zwischen einem nicht-invertierenden Eingangsanschluss (62) und dem invertierenden Eingangsanschluss (61) vorliegt, und ein zweites Fehlersignal auszugeben.</p> |
