通过测试程序增加flash器件窗口的方法

摘要

本发明公开了一种通过测试程序增加flash器件窗口的方法，包含：第1步，使用测试程序对所有晶圆上所有芯片进行VTP变化范围的测试；第2步，使用测试程序对所有晶圆上所有芯片进行VTE变化范围的测试；第3步，按照不同的VTE范围进行区间分组，将VTE变化范围落入某特定区间的芯片分入同一组；第4步，分别对不同的区间分组进行相应不同的参考电流调整或者不调整，重新读取新的参考电流值使所有分组的芯片的VTE值都向同一数值靠拢，分布收敛；第5步，重新使用新的参考电流值对所有芯片进行VTP变化范围的测试；第6步，重新使用新的参考电流值对所有芯片进行VTE变化范围的测试。本发明方法增加判断与调整步骤，提升flash器件窗口。

主权项

一种通过测试程序增加flash器件窗口的方法,其特征在于：包含如下的步骤：第1步，使用测试程序对所有芯片进行VTP变化范围的测试；第2步，使用测试程序对所有芯片进行VTE变化范围的测试；第3步，按照不同的VTE范围进行区间分组，将VTE变化范围落入对应区间分组的芯片分入该组；第4步，分别对不同的区间分组进行相应不同的参考电流调整或者不调整，重新读取新的参考电流值，使所有分组的芯片的VTE值都向同一数值靠拢，分布收敛；第5步，重新使用测试程序对所有晶圆进行VTP变化范围的测试；第6步，重新使用测试程序对所有晶圆进行VTE变化范围的测试。