发明名称 一种改善元件立碑现象的PCB制作方法
摘要 本发明公开了一种改善元件立碑现象的PCB制作方法,其包括以下步骤:S1、在PCB上制作沿元件的中线对称的焊盘;S2、在焊盘表面制作焊膏层,焊膏层尺寸小于焊盘尺寸;S3、优化PCB的布线方式。通过精确控制焊盘的对称性,保证了元件两端熔融焊锡表面张力平衡;将焊膏层适当缩小,减少器件在融焊后的锡液中位移的空间,减小器件位移,从而有效降低了元件立碑、位移、连锡现象的发生几率。优化的布线形式使器件两端热传导通道尺寸、形状一致,传热效果相同,从而减少了器件两端锡膏熔融速度的差异,进一步有效降低了器件立碑现象的发生,降低了生产成本。
申请公布号 CN105208792A 申请公布日期 2015.12.30
申请号 CN201510483707.7 申请日期 2015.08.07
申请人 深圳崇达多层线路板有限公司 发明人 齐军;杨林
分类号 H05K3/34(2006.01)I 主分类号 H05K3/34(2006.01)I
代理机构 深圳市精英专利事务所 44242 代理人 冯筠
主权项 一种改善元件立碑现象的PCB制作方法,其特征在于,包括以下步骤:S1、在PCB上制作对应元件两端的两个焊盘,两个所述焊盘沿所述元件的中线对称设置;S2、在所述焊盘表面制作焊膏层,所述焊膏层尺寸小于所述焊盘尺寸;S3、优化PCB的布线方式。
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