发明名称 |
半导体装置的制造方法 |
摘要 |
本发明的目的在于当从衬底剥离包括半导体元件的元件形成层时,抑制随着剥离而产生的静电的放电。在衬底上形成剥离层、元件形成层。在元件形成层的上表面固定之后能够剥离的支撑基材。通过支撑基材改变元件形成层的形状,来使在元件形成层和剥离层的界面产生剥离。在进行剥离时,供应纯水等的液体,以便濡湿随着剥离而逐步露出的元件形成层及剥离层。产生在元件形成层及剥离层的表面的电荷由液体扩散,从而可以消除因剥离带电的放电。 |
申请公布号 |
CN105206566A |
申请公布日期 |
2015.12.30 |
申请号 |
CN201510578752.0 |
申请日期 |
2007.09.29 |
申请人 |
株式会社半导体能源研究所 |
发明人 |
江口晋吾;门马洋平;谷敦弘;广末美佐子;桥本健一;保坂泰靖 |
分类号 |
H01L21/77(2006.01)I;H01L21/78(2006.01)I;H01L21/84(2006.01)I;G02F1/1333(2006.01)I |
主分类号 |
H01L21/77(2006.01)I |
代理机构 |
中国专利代理(香港)有限公司 72001 |
代理人 |
付曼 |
主权项 |
一种半导体装置的制造方法,包括:在衬底上形成金属层;氧化所述金属层的表面;在所述金属层上形成包括半导体元件的元件形成层;在所述元件形成层中形成沟槽;将液体供应到至少形成所述沟槽的部分;在所述液体的浸透供应之后,在由于分离暴露的表面随着分离进行而被所述液体濡湿的同时,从所述衬底分离所述元件形成层;以及在分离步骤之后,将挠性衬底固定到所述元件形成层。 |
地址 |
日本神奈川县厚木市 |