发明名称 半导体装置的制造方法
摘要 本发明的目的在于当从衬底剥离包括半导体元件的元件形成层时,抑制随着剥离而产生的静电的放电。在衬底上形成剥离层、元件形成层。在元件形成层的上表面固定之后能够剥离的支撑基材。通过支撑基材改变元件形成层的形状,来使在元件形成层和剥离层的界面产生剥离。在进行剥离时,供应纯水等的液体,以便濡湿随着剥离而逐步露出的元件形成层及剥离层。产生在元件形成层及剥离层的表面的电荷由液体扩散,从而可以消除因剥离带电的放电。
申请公布号 CN105206566A 申请公布日期 2015.12.30
申请号 CN201510578752.0 申请日期 2007.09.29
申请人 株式会社半导体能源研究所 发明人 江口晋吾;门马洋平;谷敦弘;广末美佐子;桥本健一;保坂泰靖
分类号 H01L21/77(2006.01)I;H01L21/78(2006.01)I;H01L21/84(2006.01)I;G02F1/1333(2006.01)I 主分类号 H01L21/77(2006.01)I
代理机构 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人 付曼
主权项 一种半导体装置的制造方法,包括:在衬底上形成金属层;氧化所述金属层的表面;在所述金属层上形成包括半导体元件的元件形成层;在所述元件形成层中形成沟槽;将液体供应到至少形成所述沟槽的部分;在所述液体的浸透供应之后,在由于分离暴露的表面随着分离进行而被所述液体濡湿的同时,从所述衬底分离所述元件形成层;以及在分离步骤之后,将挠性衬底固定到所述元件形成层。
地址 日本神奈川县厚木市