发明名称 一种对硅酸镓镧晶片进行清洗的方法
摘要 本发明公开了一种对硅酸镓镧晶片进行清洗的方法,包括如下步骤:使用由磷酸、双氧水以及去离子水组成的清洗液对硅酸镓镧晶片进行兆声清洗;对清洗后的硅酸镓镧晶片进行漂净并甩干;使用由氨水、双氧水以及去离子水组成的清洗液对硅酸镓镧晶片进行兆声清洗;对清洗后的硅酸镓镧晶片漂净并甩干;将漂净甩干后的晶片放入烘箱中烘干。利用本发明,压缩酸性清洗流程的时间并延长碱性清洗流程的时间,同时利用更为有效的兆声清洗替代传统的超声清洗,解决了切割处理后硅酸镓镧晶片的清洗问题,提高了硅酸镓镧晶片表面的清洁度,取得了较好的清洗效果。
申请公布号 CN103878145B 申请公布日期 2015.12.30
申请号 CN201410155237.7 申请日期 2014.04.17
申请人 中国科学院微电子研究所 发明人 李冬梅;周磊;梁圣法;李小静;张浩;谢常青;刘明
分类号 B08B3/12(2006.01)I;C30B33/00(2006.01)I;C30B29/34(2006.01)I 主分类号 B08B3/12(2006.01)I
代理机构 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人 任岩
主权项 一种对硅酸镓镧晶片进行清洗的方法,其特征在于,包括如下步骤:步骤1:使用由磷酸、双氧水以及去离子水组成的清洗液对硅酸镓镧晶片进行兆声清洗;步骤2:对清洗后的硅酸镓镧晶片进行漂净并甩干;步骤3:使用由氨水、双氧水以及去离子水组成的清洗液对硅酸镓镧晶片进行兆声清洗;步骤4:对清洗后的硅酸镓镧晶片漂净并甩干;步骤5:将漂净甩干后的晶片放入烘箱中烘干。
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