发明名称 |
一种对硅酸镓镧晶片进行清洗的方法 |
摘要 |
本发明公开了一种对硅酸镓镧晶片进行清洗的方法,包括如下步骤:使用由磷酸、双氧水以及去离子水组成的清洗液对硅酸镓镧晶片进行兆声清洗;对清洗后的硅酸镓镧晶片进行漂净并甩干;使用由氨水、双氧水以及去离子水组成的清洗液对硅酸镓镧晶片进行兆声清洗;对清洗后的硅酸镓镧晶片漂净并甩干;将漂净甩干后的晶片放入烘箱中烘干。利用本发明,压缩酸性清洗流程的时间并延长碱性清洗流程的时间,同时利用更为有效的兆声清洗替代传统的超声清洗,解决了切割处理后硅酸镓镧晶片的清洗问题,提高了硅酸镓镧晶片表面的清洁度,取得了较好的清洗效果。 |
申请公布号 |
CN103878145B |
申请公布日期 |
2015.12.30 |
申请号 |
CN201410155237.7 |
申请日期 |
2014.04.17 |
申请人 |
中国科学院微电子研究所 |
发明人 |
李冬梅;周磊;梁圣法;李小静;张浩;谢常青;刘明 |
分类号 |
B08B3/12(2006.01)I;C30B33/00(2006.01)I;C30B29/34(2006.01)I |
主分类号 |
B08B3/12(2006.01)I |
代理机构 |
中科专利商标代理有限责任公司 11021 |
代理人 |
任岩 |
主权项 |
一种对硅酸镓镧晶片进行清洗的方法,其特征在于,包括如下步骤:步骤1:使用由磷酸、双氧水以及去离子水组成的清洗液对硅酸镓镧晶片进行兆声清洗;步骤2:对清洗后的硅酸镓镧晶片进行漂净并甩干;步骤3:使用由氨水、双氧水以及去离子水组成的清洗液对硅酸镓镧晶片进行兆声清洗;步骤4:对清洗后的硅酸镓镧晶片漂净并甩干;步骤5:将漂净甩干后的晶片放入烘箱中烘干。 |
地址 |
100029 北京市朝阳区北土城西路3号 |