发明名称 TESTING METHOD FOR LIQUID CRYSTAL DISPLAY DEVICE AND TESTING APPARATUS FOR THE SAME
摘要 <p>본 발명은 액정 표시장치에 관한 것으로서, 특히 더블 GIP(gate In Panel) 방식에서 더블 GIP 각각의 불량검출을 용이하게 함으로써, 액정 표시장치의 신뢰성을 향상시킬 수 있는 액정 표시장치의 검사방법 및 검사장치에 관한 것이다. 본 발명의 실시 예에 따른 액정 표시장치의 검사방법은 액정패널의 양측에 실장되어 게이트 라인에 스캔신호를 공급하는 게이트 구동회로를 갖는 더블 GIP(Gate In Panel) 방식의 액정 표시장치에 있어서, 상기 더블 GIP 각각의 구동을 제어하는 인에이블(enable) 신호 및 상기 스캔신호의 생성을 위한 게이트 제어 신호를 수신하는 단계; 상기 인에이블 신호에 기초하여 상기 더블 GIP 중 제 1 게이트 구동회로부를 구동시키는 단계; 및 상기 제 1 게이트 구동회로부에서 상기 게이트 제어 신호에 기초하여, 일정한 전압레벨로 변환된 스캔신호를 순차적으로 게이트 라인에 공급하는 단계를 포함하고, 상기 인에이블 신호는 상기 더블 GIP 중 어느 하나의 게이트 구동회로부를 편측 구동시키기 위한 제어신호인 것을 특징으로 한다.</p>
申请公布号 KR101580092(B1) 申请公布日期 2015.12.23
申请号 KR20090131960 申请日期 2009.12.28
申请人 엘지디스플레이 주식회사 发明人 장수호;김석수
分类号 G02F1/133;G09G3/36 主分类号 G02F1/133
代理机构 代理人
主权项
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