| 发明名称 | 用于对保护电子元器件以防过热的设备进行测试的装置和附属的方法 | ||
| 摘要 | 本发明涉及一种用于对保护电子元器件(6)以防过热的设备进行测试的装置以及方法，其中，设备(1)包括与电子元器件(6)形成热连接的温度传感器(2)和针对电子元器件(6)的第一控制电路(4)，其中，温度传感器(2)与第一控制电路(4)电连接，其中，该装置具有与温度传感器(2)热连接的加热元件(3)，该加热元件可以借助第二控制电路(7)来操控。 | ||
| 申请公布号 | CN105190270A | 申请公布日期 | 2015.12.23 |
| 申请号 | CN201480014293.7 | 申请日期 | 2014.02.12 |
| 申请人 | ZF腓德烈斯哈芬股份公司 | 发明人 | 托马斯·卢贝尔 |
| 分类号 | G01K15/00(2006.01)I | 主分类号 | G01K15/00(2006.01)I |
| 代理机构 | 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 | 代理人 | 杨靖;车文 |
| 主权项 | 一种用于对保护电子元器件(6)以防过热的设备进行测试的装置，其中，所述设备(1)包括与所述电子元器件(6)形成热连接的温度传感器(2)和针对所述电子元器件(6)的第一控制电路(4)，其中，所述温度传感器(2)与所述第一控制电路(4)电连接，其特征在于，所述装置具有与所述温度传感器(2)热连接的加热元件(3)，所述加热元件能借助第二控制电路(7)来操控。 | ||
| 地址 | 德国腓德烈斯哈芬 | ||