发明名称 |
存储器件的快速测试电路 |
摘要 |
本实用新型公开一种存储器件的快速测试电路,包括:CRC校验码生成模块,对数据总线控制模块送入的数据进行CRC校验码的计算;CRC校验码生成模块内设置有写入数据CRC校验码寄存器和读取数据CRC校验码寄存器;总线接口模块,当对存储器做读操作时,该模块负责将总线上的数据采样下来,送入CRC校验码生成模块;当外部测试设备需要读取CRC校验码生成模块内部存储的CRC校验数据时,将CRC校验码送到总线,供外部测试设备读取;控制模块,负责接受测试设备的指令,开始对存储器内容进行检查,同时包括对总线接口模块及CRC校验生成模块进行控制。本实用新型够在较短时间内对存储器存储数据的正确性做出判断,同时提高了测试效率。 |
申请公布号 |
CN204904844U |
申请公布日期 |
2015.12.23 |
申请号 |
CN201520625351.1 |
申请日期 |
2015.08.18 |
申请人 |
珠海市一微半导体有限公司 |
发明人 |
常子奇;许登科 |
分类号 |
G11C29/56(2006.01)I |
主分类号 |
G11C29/56(2006.01)I |
代理机构 |
广东秉德律师事务所 44291 |
代理人 |
闫有幸;杨焕军 |
主权项 |
一种存储器件的快速测试电路,其特征在于,包括:CRC校验码生成模块,对数据总线控制模块送入的数据进行CRC校验码的计算;CRC校验码生成模块内设置有写入数据CRC校验码寄存器和读取数据CRC校验码寄存器;总线接口模块,当对存储器做读操作时,该模块负责将总线上的数据采样下来,送入CRC校验码生成模块;当外部测试设备需要读取CRC校验码生成模块内部存储的CRC校验数据时,将CRC校验码送到总线,供外部测试设备读取;控制模块,负责接受测试设备的指令,开始对存储器内容进行检查,同时包括对总线接口模块及CRC校验生成模块进行控制。 |
地址 |
519000 广东省珠海市香洲区红山路26号阳光大厦810 |