发明名称 |
一种消除圆片样品表面电荷效应的装置及其使用方法 |
摘要 |
圆片在进行表面分析时,常常因为圆片表面发生电荷效应而使分析产生误差。本发明通过一套装置和相应的使用方法消除了该问题。本发明提出的装置含有:金属网格,样品台,和螺栓组件构成三部分。当圆片放置在样品台后,放下金属网格,使圆片表面上的积累电荷通过金属网格导走。方便有效地解决了电荷效应产生分析误差的问题。 |
申请公布号 |
CN100592063C |
申请公布日期 |
2010.02.24 |
申请号 |
CN200610118507.2 |
申请日期 |
2006.11.20 |
申请人 |
中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 |
发明人 |
周晶;虞勤琴;李明;赵燕丽 |
分类号 |
G01N1/28(2006.01)I;H01L21/66(2006.01)I;H05H3/02(2006.01)I |
主分类号 |
G01N1/28(2006.01)I |
代理机构 |
北京市金杜律师事务所 |
代理人 |
李 勇 |
主权项 |
1.一种消除圆片样品表面电荷的装置,含有金属网格,样品台,和螺栓组件,其中金属网格、样品台上都有相互对应的通孔,金属网格放置于样品台上,通过螺栓组件连接,其特征在于所述螺栓组件含有螺栓、第一弹簧和第二弹簧两个弹簧、螺母,其中,螺栓插入金属网格的通孔后套入第一弹簧、再插入样品台各自的通孔后下部套入第二弹簧并拧上螺母,金属网格通过螺栓与样品台中的基台相连,基台在俄歇电子能谱仪内部接地。 |
地址 |
201203上海市浦东新区张江路18号 |