摘要 |
<p>Die Erfindung betrifft ein Verfahren und eine zur Ausführung des Verfahrens geeignete Vorrichtung zur Diagnose von technischen Einrichtungen und/oder Maschinen und/oder Anlagen, bei dem basierend auf einer Datenbasis (D) mit einer Anzahl von Diagnosen (1), denen jeweils zumindest ein Merkmal (M1 bis Mz) und dem Merkmal (M1 bis Mz) zumindest eine das technische System (2) repräsentierende Symptombeschreibung (S1 bis Sz) zugeordnet sind, eine Ausnahmesituation des Systems (2) iterativ anhand einer merkmals- und/oder symptombezogenen Analyse der betreffenden Diagnosen (1) derart diagnostiziert wird, dass anhand eines Merkmals (M1), für dessen Symptombeschreibung (S1) ein von einem erwarteten Ergebnis (Esoll) abweichender Wert (W1) vorliegt, diejenigen Diagnosen (1) identifiziert und ausgegeben werden, denen dieses Merkmal (M1) zugeordnet ist, wobei aus den identifizierten Diagnosen (1) anhand eines weiteren Merkmals (M2), für dessen Symptombeschreibung (S2) ein von einem erwarteten Ergebnis (Esoll) abweichender Wert (W2) vorliegt, diejenige Diagnose (1) aus den bereits ausgegebenen Diagnosen (1) identifiziert und ausgegeben wird, der dieses weitere Merkmal (M2) zugeordnet ist.
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申请人 |
SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT |
发明人 |
GAUCKLER, WOLFGANG;GOERL, HERBERT;HOFFMANN, WERNER, DR.;KOEGEL, GOETZ;SCHISCHMANJAN, STEPAN |