发明名称 微波位置测量装置和位置测量方法
摘要 本发明涉及用于可移动地安装在致动器外壳(13)的作用空间(12)中的致动器(11)的致动器元件(14)的位置检测的位置测量方法和微波位置测量装置(30),所述微波位置测量装置具有高频微波天线结构(34),用于将具有至少两种不同频率(f1,f2,f3)的微波(43)发送到作用空间,并且用于接收来自作用空间(44)的通过在所述致动器元件上至少部分反射的发射的微波(43)形成的微波,并且具有评估装置(42),用于形成表示所述致动器元件的特定位置(X)的位置信号(52),借助于通过反射微波(44)形成的测量信号(50)。对于微波位置测量装置(30)来说,假设用于形成位置信号(52)的评估装置(42)是通过测量信号(50)的分量(Ug11a,Ug12a,Ug13a)进行加权,所述分量取决于至少两种不同频率(f1,f2,f3),并且取决于致动器元件(14)的特定位置(X)。
申请公布号 CN101460812A 申请公布日期 2009.06.17
申请号 CN200780016451.2 申请日期 2007.04.18
申请人 费斯托股份有限两合公司 发明人 T·赖宁格;M·梅尔;M·冯泽佩林
分类号 G01D5/48(2006.01)I;F15B15/28(2006.01)I 主分类号 G01D5/48(2006.01)I
代理机构 中国专利代理(香港)有限公司 代理人 赵 辛;梁 冰
主权项 1. 用于可移动地安装在致动器外壳(13)的作用空间(12)中的致动器(11)的致动器元件(14)的位置检测的微波位置测量装置,它具有高频微波天线结构(34),用于将具有至少两种不同频率(f1,f2,f3)的微波发射到作用空间(43),并且用于接收来自作用空间(12)的通过在致动器元件(14)上至少部分反射的发射的微波(43)所形成的反射微波(44),并且具有评估装置(42;42′),用于借助于通过反射微波(44)形成的测量信号(50)形成表示致动器元件(14)的特定位置(X)的位置信号(52),其特征在于,用于形成位置信号(52)的评估装置(42;42′)是通过对测量信号(50)的分量(Ug11a,Ug12a,Ug13a;Δ1,Δ2;Ug11ar;Ug11br)进行加权进行测量的,所述分量取决于至少两种不同频率(f1,f2,f3),并且取决于致动器元件(14)的特定位置(X)。
地址 德国埃斯林根