发明名称 垂直沟道半导体器件及其制造方法
摘要 垂直沟道半导体衬底包括具有柱子的半导体衬底,该柱子具有上表面。绝缘栅电极围绕柱子的外围。绝缘栅电极在比柱子的上表面低的垂直水平面上具有上表面,以垂直地将绝缘栅电极与柱子的上表面分隔开。第一源区/漏区在与柱子相邻的衬底中。第二源区/漏区设置在柱子的上部区域中,包括柱子的上表面。接触焊盘接触柱子的整个上表面,以电连接到第二源区/漏区。
申请公布号 CN1897305B 申请公布日期 2010.05.12
申请号 CN200610105583.X 申请日期 2006.07.17
申请人 三星电子株式会社 发明人 尹在万;朴东建;李忠浩;金圣求;李元锡;朴承培
分类号 H01L29/78(2006.01)I;H01L27/108(2006.01)I;H01L21/336(2006.01)I;H01L21/8242(2006.01)I 主分类号 H01L29/78(2006.01)I
代理机构 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 代理人 林宇清;谢丽娜
主权项 一种垂直沟道半导体器件,包括:半导体衬底,包括柱子,该柱子具有上表面;绝缘栅电极,围绕柱子的外围,绝缘栅电极在比柱子的上表面低的水平面上具有上表面,以在垂直方向将绝缘栅电极与柱子的上表面分隔开;第一源区/漏区,在与柱子相邻的衬底中;第二源区/漏区,设置在柱子的上部区域中,包括柱子的上表面;接触焊盘,接触柱子的整个上表面,以电连接到第二源区/漏区;以及第一源/漏信号线,其接触第一源区/漏区,并在垂直于栅信号线的方向上延伸,其中第一源/漏信号线与栅电极绝缘,并围绕栅电极的外围。
地址 韩国京畿道水原市灵通区梅滩洞416番地