发明名称 平动式光电粗糙度测量仪
摘要 一种平动式光电粗糙度测量仪,包括用于探测物体表面的探针,所述平动式光电粗糙度测量仪还包括轨道、滑行卡模、光电传感器和用于按照光电传感器的移位信号记录物体的轮廓曲线图的轮廓曲线成形模块,所述轨道两端安装支脚,所述滑行卡模可滑动地安装在所述轨道上,所述探针安装在所述滑行卡模上,所述光电传感器安装在所述探针上,所述光电传感器与所述轮廓曲线成形模块连接。本实用新型提供一种提高轮廓曲线的测量精度的平动式光电粗糙度测量仪。
申请公布号 CN201463850U 申请公布日期 2010.05.12
申请号 CN200920123196.8 申请日期 2009.06.25
申请人 浙江建设职业技术学院 发明人 马小杰;杜时贵;施烨辉;马大杰;宗丽杰;王伟;干学宏;江晨晖
分类号 G01B11/30(2006.01)I;G01B11/24(2006.01)I 主分类号 G01B11/30(2006.01)I
代理机构 杭州天正专利事务所有限公司 33201 代理人 王兵;王利强
主权项 一种平动式光电粗糙度测量仪,包括用于探测物体表面的探针,其特征在于:所述平动式光电粗糙度测量仪还包括轨道、滑行卡模、光电传感器和用于按照光电传感器的移位信号记录物体的轮廓曲线图的轮廓曲线成形模块,所述轨道两端安装支脚,所述滑行卡模可滑动地安装在所述轨道上,所述探针安装在所述滑行卡模上,所述光电传感器安装在所述探针上,所述光电传感器与所述轮廓曲线成形模块连接。
地址 311231 浙江省杭州市萧山区高教园区