| 发明名称 | 三维表面测量方法及测量系统 | ||
| 摘要 | 一种三维表面测量方法，包括：(1)向物体表面投射一均匀分布的面状光点图案，所述面状光点图案中光点之间的距离满足其像点的平均失配度小于预设的失配度阈值；(2)从已知的两个及其以上角度获取物体表面光点的图像；(3)匹配光点在各个图像中的像点；(4)计算并保存光点的空间坐标；(5)改变测量位置，继续进行步骤(1)-(4)，直至还原出待测对象。本申请只需投射一幅面状光点图案且只需一次成像即可完成测量出该面上所有光点的空间坐标。并且，在测量过程中，待测物体与测量装置之间的距离可以是动态变化的，不像现有技术中需要要求其固定不变，因此，本申请中用户使用手持式测量装置就能完成测量，不需要使用脚手架等固定装置。 | ||
| 申请公布号 | CN101706263A | 申请公布日期 | 2010.05.12 |
| 申请号 | CN200910198536.8 | 申请日期 | 2009.11.10 |
| 申请人 | 倪友群;刘晖 | 发明人 | 刘晖;倪友群 |
| 分类号 | G01B11/25(2006.01)I;G01B11/00(2006.01)I | 主分类号 | G01B11/25(2006.01)I |
| 代理机构 | 上海汉声知识产权代理有限公司 31236 | 代理人 | 胡晶 |
| 主权项 | 一种三维表面测量方法，用于测量物体表面点的空间坐标，其特征在于：由以下步骤组成：(1)向待测对象表面投射一均匀分布的面状光点图案，所述面状光点图案中光点之间的距离满足其像点的平均失配度小于预设的失配度阈值；(2)从至少两个角度获取物体表面光点的图像；(3)匹配光点在各个图像中的像点；(4)计算并保存光点的空间坐标；(5)改变测量位置，继续进行步骤(1)-(4)，直至还原出待测对象。 | ||
| 地址 | 201400 上海市宝山区华浜新村124号502室 | ||