发明名称 半导体器件强化测试片
摘要 本实用新型公开了一种半导体器件强化测试片,属于半导体器件测试技术领域。它包括基材、中间层和测试层,测试层表面局部设有强化层。本实用新型耐磨性好,完全可以达到传统测试片的硬度,综合性能超过现有镀金片的各项性能指标,极大地降低了测试片的使用成本。适合作为半导体器件电参数测试中测试片使用。
申请公布号 CN201464498U 申请公布日期 2010.05.12
申请号 CN200920080940.0 申请日期 2009.05.18
申请人 乐山-菲尼克斯半导体有限公司 发明人 王跃;赵小东;邵鹏
分类号 G01R1/02(2006.01)I 主分类号 G01R1/02(2006.01)I
代理机构 代理人
主权项 一种半导体器件强化测试片,包括基材(1)、中间层(2)和测试层(3),其特征在于,测试层(3)表面局部设有强化层(4)。
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