发明名称 颗粒粒度测试样品池
摘要 本实用新型提供一种颗粒粒度测试样品池,属于颗粒粒度测试设备配件领域,其结构包括一能透光的样品池体,样品池体为中空结构,其横截面为边数不小于四的偶数多边形,且至少有一组对边平行的工作面,在池体的工作面上至少附设有一个凸透镜。使用时,在凸透镜焦平面设有条形阵列光电探测器,经扩束汇聚的激光束从无透镜的平面入射样品池,颗粒的前向散射信息由通常的半圆环探测器检测,颗粒的侧向散射与后向散射信息由条带状阵列探测器检测,由此获得全方位颗粒散射的信息。本实用新型的颗粒粒度测试样品池与现有技术相比,其测试的最大散射角为135度,测试范围内无死角;且管道横截面大,流量大,因而利于在线粒度测试,可大大提高激光粒度仪的分析精度。
申请公布号 CN201322714Y 申请公布日期 2009.10.07
申请号 CN200820227513.6 申请日期 2008.12.18
申请人 任中京 发明人 任中京
分类号 G01N15/02(2006.01)I;G01N21/51(2006.01)I 主分类号 G01N15/02(2006.01)I
代理机构 济南信达专利事务所有限公司 代理人 姜 明
主权项 1、颗粒粒度测试样品池,包括能透光的样品池体,其特征在于,样品池体为中空结构,其横截面为边数不小于四的偶数多边形,且至少有一组对边平行的工作面,在池体的工作面上至少附设有一个凸透镜。
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