发明名称 芯片中模拟开关控制电路
摘要 本发明涉及一种芯片中模拟开关控制电路,包括:第一NMOS管、第一PMOS管;还包括:第二PMOS管、第三PMOS管、第四PMOS管;所述的第二PMOS管和第三PMOS管的栅极与第一PMOS管的栅极相接,所述的第二PMOS管和第三PMOS管的源极和衬底相连,并与第一PMOS管的衬底和第四PMOS管的漏极相接;第二PMOS管和第三PMOS管的漏极分别和第一PMOS管的源极和漏极相连;第四PMOS管的源极与VDD相接。与现有技术相比,本发明的有益效果是:使开关关断后的漏电路减低到了最小,使开关打开后的导通电阻最小,电阻的平坦度最好。
申请公布号 CN101540599A 申请公布日期 2009.09.23
申请号 CN200810034942.6 申请日期 2008.03.21
申请人 广芯电子技术(上海)有限公司 发明人 戴忠伟
分类号 H03K17/687(2006.01)I 主分类号 H03K17/687(2006.01)I
代理机构 上海智信专利代理有限公司 代理人 胡美强
主权项 1.一种芯片中模拟开关控制电路,包括:第一NMOS管、第一PMOS管;还包括:第二PMOS管、第三PMOS管、第四PMOS管;其特征在于:所述的第二PMOS管和第三PMOS管的栅极与第一PMOS管的栅极相接,所述的第二PMOS管和第三PMOS管的源极和衬底相连,并与第一PMOS管的衬底和第四PMOS管的漏极相接;第二PMOS管和第三PMOS管的漏极分别和第一PMOS管的源极和漏极相连;第四PMOS管的源极与VDD相接。
地址 200030上海市虹桥路333号613室