发明名称 |
基于纹理基元统计特性分析的虹膜分类方法 |
摘要 |
本发明公开了一种基于纹理基元统计特性分析的虹膜分类方法,包括:S1.对训练集中清晰的虹膜图像进行预处理,得到感兴趣区域ROI,对ROI区域进行特征提取,对提取的纹理特征进行训练并建模,获得虹膜粗分类模型;S2.对任意输入的清晰虹膜图像进行预处理,得到ROI区域,然后进行特征提取,将提取得到的虹膜纹理特征输入到步骤S1训练得到的模型中,获得输入虹膜图像的类别信息。利用本发明,使得完成一次虹膜比对的平均时间缩短,达到实时的效果,有效地加快了虹膜识别技术在大规模数据库中进行特征模板比对的速度。 |
申请公布号 |
CN101540000A |
申请公布日期 |
2009.09.23 |
申请号 |
CN200810102312.8 |
申请日期 |
2008.03.20 |
申请人 |
中国科学院自动化研究所 |
发明人 |
谭铁牛;孙哲南;邱显超;何召锋 |
分类号 |
G06K9/62(2006.01)I;G06K9/00(2006.01)I |
主分类号 |
G06K9/62(2006.01)I |
代理机构 |
中科专利商标代理有限责任公司 |
代理人 |
周国城 |
主权项 |
1、一种基于纹理基元统计特性分析的虹膜分类方法,其特征在于,该方法包括:S1、对训练集中清晰的虹膜图像进行预处理,得到感兴趣区域ROI,对ROI区域进行特征提取,对提取的纹理特征进行训练并建模,获得虹膜粗分类模型;S2、对任意输入的清晰虹膜图像进行预处理,得到ROI区域,然后进行特征提取,将提取得到的虹膜纹理特征输入到步骤S1训练得到的模型中,获得输入虹膜图像的类别信息。 |
地址 |
100080北京市海淀区中关村东路95号 |