发明名称 动态电压产生装置与其使用方法
摘要
申请公布号 TWI334692 申请公布日期 2010.12.11
申请号 TW096104249 申请日期 2007.02.06
申请人 瑞昱半导体股份有限公司 发明人 林见儒
分类号 H03K17/00 主分类号 H03K17/00
代理机构 代理人 李文贤 台北县板桥市民生路1段33号17楼之3
主权项 一种动态电压产生装置,用以输出一动态电压以导通一取样开关,该装置包含:一参考开关,系根据该取样开关而得,该参考开关与该取样开关互相匹配;及一回授电路,根据该参考开关产生该动态电压;其中,该取样开关之一取样电阻值系根据该动态电压而改变。如请求项1之动态电压产生装置,其中该取样电阻值与制程、电压、温度独立。如请求项1之动态电压产生装置,其中该参考开关之一参考电阻值实质上等于该取样电阻值。如请求项1之动态电压产生装置,其中该参考开关根据一固定电压与一参考电流产生该参考电阻值。如请求项4之动态电压产生装置,其中该固定电压与该参考电流之比值为一目标电阻值。如请求项5之动态电压产生装置,其中该参考电流反比于一外部电阻值,使得该目标电阻值正比于该外部电阻值。如请求项5之动态电压产生装置,其中该参考电流正比于一取样电容值,使得该目标电阻值反比于该取样电容值。如请求项4之动态电压产生装置,其中该参考开关为一MOS开关,其汲极接收该参考电流与该固定电压。如请求项8之动态电压产生装置,其中该回授电路包含一OP放大器,其负输入端耦接于该固定电压,其正输入端耦接于该MOS开关之汲极,其输出端耦接于该MOS开关之闸极,并于其输出端输出该动态电压。一种导通取样开关的方法,包含下列步骤:提供与该取样开关互相匹配的一参考开关;根据该取样开关提供一动态电压;及利用该动态电压调整该取样开关之一取样电阻值,使该取样电阻值与制程、电压、温度独立。如请求项10之导通取样开关的方法,其中该参考开关之一参考电阻值实质上等于该取样电阻值。如请求项11之导通取样开关的方法,更包含下列步骤:提供一固定电压与一参考电流,其中该参考开关根据该固定电压与该参考电流产生该参考电阻值。如请求项12之导通取样开关的方法,其中该固定电压与该参考电流之比值为一目标电阻值。如请求项13之导通取样开关的方法,其中该参考电流反比于一外部电阻值,使得该目标电阻值正比于该外部电阻值。如请求项13之导通取样开关的方法,其中该参考电流正比于一取样电容值,使得该目标电阻值反比于该取样电容值。如请求项12之导通取样开关的方法,其中该参考开关为一MOS开关,其汲极接收该参考电流与该固定电压。如请求项11之导通取样开关的方法,其中该动态电压系利用一回授机制根据该参考电阻值所产生。
地址 新竹市新竹科学园区创新二路2号