发明名称 对准记号及利用此对准记号校准制程之方法
摘要 本发明提供一种对准记号,包括:一基底;一材料层,形成于该基底上;以及一记号,设置于该材料层上,包括由外而内排列之一第一次记号、一第二次记号以及一第三次记号,其中任意两次记号之宽度系相同。本发明另提供一种利用此对准记号校准制程之方法。
申请公布号 TWI362573 申请公布日期 2012.04.21
申请号 TW096146993 申请日期 2007.12.10
申请人 南亚科技股份有限公司 桃园县龟山乡华亚科技园区复兴三路669号 发明人 吴文彬;刘安雄
分类号 G03F9/00 主分类号 G03F9/00
代理机构 代理人 洪澄文 台北市南港区三重路19之6号2楼;颜锦顺 台北市南港区三重路19之6号2楼
主权项
地址 桃园县龟山乡华亚科技园区复兴三路669号