发明名称 |
可提高讯杂比之测距装置及其方法 |
摘要 |
一种可提高测距装置之讯杂比之方法包含发光元件于发光时间内,发出侦测光射向待测物以产生反射光、当发光元件开始发出侦测光后,经过一延迟时间,光感测元件感测反射光之能量,并据以产生光感测讯号、根据侦测光之能量与光感测讯号以得到光往返测距装置与待测物之光飞行时间,以及根据光飞行时间以得到测距装置与待测物之间之待测距离。由于待测距离大于已知最短待测距离,因此该方法可据以计算出适当的延迟时间,以使反射光于延迟时间之后才射至光感测元件。如此,光感测元件于延迟时间内不感测背景光,因此可提高光感测讯号之讯杂比。 |
申请公布号 |
TWI427273 |
申请公布日期 |
2014.02.21 |
申请号 |
TW099125136 |
申请日期 |
2010.07.29 |
申请人 |
原相科技股份有限公司 新竹市新竹科学工业园区创新一路5号5楼 |
发明人 |
许恩峯;张彦闵 |
分类号 |
G01C3/00;G01S17/08 |
主分类号 |
G01C3/00 |
代理机构 |
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代理人 |
吴丰任 新北市永和区福和路389号6楼之3;戴俊彦 新北市永和区福和路389号6楼之3 |
主权项 |
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地址 |
新竹市新竹科学工业园区创新一路5号5楼 |