发明名称 肖特基二极管工艺方法
摘要 本发明公开了一种肖特基二极管工艺方法,包含:第1步,硅衬底上使用硬掩膜进行沟槽刻蚀;第2步,对硬掩膜进行回刻;第3步,沟槽侧壁氧化层淀积;4步,氧化层回刻,沟槽底部注入形成P阱并退火;第5步,沟槽内Ti/TiN淀积、钨淀积,以及回刻;第6步,层间介质淀积;第7步,接触金属的淀积、光刻及回刻;第8步,Ti/TiN溅射、铝/铜溅射,再进行光刻及刻蚀。本发明增加硬掩膜的湿法刻蚀,沟槽内金属钨在硅衬底表面水平突出,在接触金属刻蚀时对沟槽内氧化层起保护作用,防止沟槽内氧化层过刻蚀。
申请公布号 CN105161417A 申请公布日期 2015.12.16
申请号 CN201510546725.5 申请日期 2015.08.31
申请人 上海华虹宏力半导体制造有限公司 发明人 丛茂杰
分类号 H01L21/329(2006.01)I 主分类号 H01L21/329(2006.01)I
代理机构 上海浦一知识产权代理有限公司 31211 代理人 丁纪铁
主权项 一种肖特基二极管工艺方法,其特征在于:包含如下的工艺步骤:第1步,硅衬底上使用硬掩膜进行沟槽刻蚀;第2步,对硬掩膜进行回刻;第3步,沟槽侧壁氧化层淀积;第4步,氧化层回刻,沟槽底部注入形成P阱并退火;第5步,沟槽内Ti/TiN淀积、钨淀积,以及回刻;第6步,层间介质淀积;第7步,接触金属的淀积、光刻及回刻;第8步,Ti/TiN溅射、铝/铜溅射,再进行光刻及刻蚀。
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