发明名称 钴锰气相沉积;COBALT MANGANESE VAPOR PHASE DEPOSITION
摘要 本发明描述半导体元件以及形成具有阻障层的半导体元件的方法,其中该阻障层包含钴与锰氮化物。本发明亦描述半导体元件以及形成具有阻障层和可选的黏附层的半导体元件的方法,其中该阻障层包含CoMn(N)。
申请公布号 TW201545895 申请公布日期 2015.12.16
申请号 TW103145783 申请日期 2014.12.26
申请人 应用材料股份有限公司 APPLIED MATERIALS, INC. 发明人 柳尙澔 YU, SANG HO;马伯方 MA, PAUL F.;吕疆 LU, JIANG;许本立 SHEU, BEN LI
分类号 B32B7/02(2006.01);B32B9/00(2006.01);B32B15/00(2006.01);C23C28/00(2006.01);C23C16/44(2006.01);C23C16/06(2006.01);C23C16/34(2006.01);H01L21/28(2006.01);H01L21/3205(2006.01) 主分类号 B32B7/02(2006.01)
代理机构 代理人 蔡坤财李世章
主权项
地址 美国 US
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