基于电子标尺的滤线栅检测方法

摘要

本发明涉及一种基于电子标尺的滤线栅检测方法，步骤为：创建兼容设备描述表DC；采用刻度准确的刻度尺进行标定；在兼容设备描述表DC中，用GDI+画标尺，方法如下：将GDI+设置为抗锯齿模式，然后绘制标尺，标尺分为标尺中心线和标尺刻度线，标尺中心线位于显示区中心位置；根据滤线栅的尺寸计算标尺刻度的位置；将生成的电子标尺置于待检测的滤线栅图像上，每叠加一根铝片，观察一下该铝片是否和标尺中相应位置的刻度线重合。本发明能够根据检测需求，生成电子标尺，对不同产品检测适应性强，能够有效抗锯齿，具有快速准确的特点。

主权项

一种基于电子标尺的滤线栅检测方法，采用如下的的步骤：1)创建兼容设备描述表DC，之后采集的图像将转化为HBITMAP格式，选入兼容设备描述表DC；2)采用刻度准确的刻度尺进行标定，方法如下：a)准备一个刻度清晰的刻度尺；b)采集一幅刻度尺图像，在放大图像显示区选择刻度为0mm刻度线的左端点(X_sl，Y_sl)和右端点((X_sr，Y_sr)、刻度为100mm刻度线的左端点(X_el，Y_el)和右端点(X_er，Y_er)，标定时，以刻度为100mm刻度线的右端点的y轴坐标为基准；3)在兼容设备描述表DC中，用GDI+画标尺，方法如下：将GDI+设置为抗锯齿模式，然后绘制标尺，标尺分为标尺中心线和标尺刻度线，标尺中心线位于显示区中心位置，标尺刻度线根据以下参数进行绘制：标尺的计算公式为：X₁＝(X_sl+X_sr+X_el+X_er)/4‑W_s/2   公式(1)$Y_1=H_S*(D+W)/100*\tan (\frac{\theta }{n}*i)+W_s*\tan (\frac{\theta }{n}*i)$   公式(2)X₂＝(X_sl+X_sr+X_el+X_er)/4+W_s/2   公式(3)$Y_2=H_S*(D+W)/100*\tan (\frac{\theta }{n}*i)$   公式(4)其中：X₁、Y₁分别为标尺刻度起点的横纵坐标；X₂、Y₂分别为标尺刻度终点的横纵坐标，θ＝arctan(H/D+W)，$H_s=\frac{Y_{\mathrm{sl}}+Y_{\mathrm{sr}}}{2}-Y_{\mathrm{er}};$n‑标尺刻度数，n＝H/T；i‑标尺刻度的位置；H‑滤线栅高度，单位：毫米；T‑铝片厚度，单位：毫米；D‑交点距离，单位：毫米；各铝片延长线的交点到滤线栅的距离称为交点距离，交点距离范围为：700mm至2000mm；W‑滤线栅宽度，单位：毫米；W_s‑标尺宽度，单位：像素；按照上述公式分别计算出标尺的每个刻度的起点和终点坐标，画出电子标尺；4)将待检测的滤线栅放置在采集刻度尺图像时刻度尺的摆放位置，采集一幅待检测的滤线栅图像；5)将生成的电子标尺置于待检测的滤线栅图像上，每叠加一根铝片，观察一下该铝片是否和标尺中相应位置的刻度线重合，如果重合说明该铝片角度正确，如果不重合需要重新调整铝片位置，以保证滤线栅合格。