发明名称 波长选择装置、开关和方法
摘要 本发明和波长选择相位控制-波长多工光信号中一预定波长(λi)之信号之装置有关,该装置包含一输入埠(25,105,209,307),用以输入该波长多工光信号,一分离装置(ll,101,201,301),将该输入波长多工光信号分为预定波长(λi)之信号及一包含该多路实质上所剩波长之一信号,一相位控制元件(37,ll9,221,315,317)相位控制该二分离信号之一,一组合装置(51,103,201,301)将该分离相位控制信号及其它分离信号组合以形成一波长多工波长选择相位控制光信号,及一输出埠(71,115,213,311)输出该波长多工波长选择相位控制光信号。本发明亦包含一包含至少一此类装置之开关及一波长选择相位控制之方法。
申请公布号 TW461200 申请公布日期 2001.10.21
申请号 TW088116757 申请日期 1999.09.29
申请人 LM艾瑞克生电话公司 发明人 脱斯登奥古斯特森
分类号 H04J14/02 主分类号 H04J14/02
代理机构 代理人 陈长文 台北巿敦化北路二○一号七楼
主权项 1.一种用于包含于一波长多工光信号中一预定波长(i)之信号之波长选择相位控制的装置,其特征在于-一输入埠(25,105,209,307),输入该波长多工光信号,-一分离装置(11,101,201,301)将该输入波长多工光信号分离为预定波长(i)之信号及一包含实质上该多工中剩余波长之信号,-一相位控制装置(37,119,231,315,317),相位控制该二分离信号之一,-一组合装置(51,103,201,301),组合该分离后相位控制信号及其它分离信号以形成波长多工波长选择相位控制光信号,以及-一输出埠(71,115,215,311),输出该波长多工波长选择相位控制光信号。2.如申请专利范围第1项之装置,特征在于其包含一该个别分离后信号之波导(35,43,117,121),各在该分离装置之一个别输出埠(33,45,107,109)及该组合装置之一个别输入埠(65,75,111,113)间连接,因此该相位控制装置(37,119)配置于这些波导之一。3.如申请专利范围第2项之装置,特征在于所有输入埠(25,65,75,105,111,113)及输出埠(33,45,71,107,109,115)均物理性分隔。4.如申请专利范围第2或3项之装置,特征在于其对该二分离后信号实质上是等传递距离。5.如申请专利范围第2项之装置,特征在于该分离装置包含一布拉格光栅辅助MMI耦合器(101)。6.如申请专利范围第2项之装置,特征在于该组合装置包含一布拉格光栅辅助MMI耦合器(103)。7.如申请专利范围第2项之装置,特征在于该分离装置(11)包含二个由二具布拉格光栅之波导(17,19)互连结的耦合器(13,15)。8.如申请专利范围第7项之装置,特征在于该耦合器(13)之一输入该波长多工光信号及于具布拉格光栅之该二波导(17,19)输出该波长多工光信号,该布拉格光栅(21,23)利用反射该信号之一及传送其它信号将该信号分离为预定波长(i )之信号及包含实质上该多路中剩余波长之信号,该第二耦合器(15)输入经该布拉格光栅传送之信号及将之于和该分离装置输出埠(45)之一相连之该波导(43)输出,及该第一耦合器(13)另输入该布拉格光栅(21,23)反射之信号并将之于和该分离装置之第二输出埠(33)连接之波导(35)输出。9.如申请专利范围第2项之装置,特征在于该组合装置(51)包含二个由具布拉格光栅之二波导(57,59)互连结的耦合器(53,55)。10.如申请专利范围第9项之装置,特征在于该组合装置之第一耦合器(53)于该组合装置之第一输入埠(65)输入一分离信号及将该分离后信号于该组合装置波导(57,59)输出,该组合装置之第二耦合器(55)于该组合装置之第二输入埠(75)输入另一分离后信号及于该组合装置之波导(57,59)输出该另一分离后信号,该组合装置之布拉格光栅(61,63)利用反射该分离信号及传送另一分离信号组合该分离信号,及该第一耦合器(53)另输入该组合之波长多工波长选择相位控制光信号及将之于该装置之输出(73)输出。11.如申请专利范围第1项之装置,特征在于该分离装置及该组合装置由一相同装置(201,301)构成,及该装置包含一回授装置(223,305,319,419)指引该二分离信号之一自该架构经进行相位控制之该相位控制装置(221,315,317)回到该架构。12.如申请专利范围第11项之装置,特征在于该架构包含一连接至备有布拉格光栅之二波导(207,305)的耦合器(203,303)。13.如申请专利范围第12项之装置,特征在于该耦合器(203,303)输入该波长多工光信号及于具布拉格光栅之该二波导(207,305)输出该波长多工光信号,该布拉格光栅利用反射一信号及传送其它信号将该信号分离为预定波长(i )之信号及包含实质上该多路中剩余波长之信号,该回授装置(223,305)指引该传送信号自该架构经进行相位控制之该相位控制装置(221,315,317)回到该架构,该布拉格光栅另利用传送该返回相位控制信号组合该分离信号,及该耦合器(203,303)输入该组合波长多工波长选择相位控制光信号及将之于该装置之输出埠(213,311)输出。14.如申请专利范围第13项之装置,特征在于该回授装置包含另一耦合器(205)及一波导回路(223)指引该传送信号经该进行相位控制之相位装置(221)回到另一耦合器(205),因此该另一耦合器输入经该布拉格光栅传送之信号,将之于该波导回路输出,输入经该相位控制装置之该相位控制信号及将之于具布拉格光栅之波导(207)输出。15.如申请专利范围第13项之装置,特征在于该回授装置包含该具布拉格光栅之波导(305)之一延伸,及该反射装置(319,419)将该传送信号反射回该波导(305),及该相位控制装置包含二相位控制元件(315,317)位于个别之波导(305)。16.如申请专利范围第15项之装置,特征在于该反射装置包含一架构(319)将该传送信号全反射。17.如申请专利范围第15项之装置,特征在于该反射装置包含布拉格光栅(419)反射该传送信号。18.如申请专利范围第1项之装置,特征在于该分离装置及/或该组合装置包含一光循环器。19.如申请专利范围第1项之装置,特征在于该分离装置及/或该组合装置包含一Y耦合器。20.如申请专利范围第7项之装置,特征在于该布拉格光栅(21,23,61,63)反射该预定波长之信号。21.如申请专利范围第7项之装置,特征在于该布拉格光栅传送该预定波长之信号。22.如申请专利范围第1项之装置,特征在于该相位控制装量(37,119,221,315,317)相位控制该预定波长之信号。23.如申请专利范围第1项之装置,特征在于相位控制装置(221)相位控制包含实质上该多路中剩余波长之信号。24.如申请专利范围第23项之装置,特征在于另一相位控制装置(605)相位控制该组合波长多工波长选择相位控制光信号。25.如申请专利范围第1项之装置,特征在于各相位控制装置(37,119,221,315,317,605)由热光或电光装置构成。26.如申请专利范围第7项之装置,特征在于各耦合器(13,15,53,55,203,205,303)由一MMI波导架构构成。27.如申请专利范围第7项之装置,特征在于各耦合器(13,15,53,55,203,205,303)由一定向耦合器构成。28.如申请专利范围第1项之装置,特征在于其包含至少一强度调变装置(703,705)将该波长多工光信号波长选择相位调变。29.如申请专利范围第28项之装置,特征在于其包含一用于相位控制装置或元件(315,317)之强度调变装置(703,705),其与个别之相位控制装置或元件(315,317)串联。30.如申请专利范围第38或29项之装置,特征在于该强度调变装置包含一电光开关。31.一种用以切换一波长多工多频道光信号所包含之至少一波长频道之开关,其特征在于其包含用于该波长频道之至少一如申请专利范围第1项之装置(611-618)。32.如申请专利范围第31项之开关,其特征在于其包含一干涉电路,特别是一马赫陈德尔干涉仪结构(610,660,670,680)。33.如申请专利范围第31项之开关,其特征在于其包含一第一(620,662,672,682)及一第二(630,664,674,684)耦合装置,最好为由至少二马赫陈德尔波导(640,642)互连结的MMI波导结构,其中至少一波导具至少一装置,及该第二耦合装置(630,664,674,684)包含至少二输出埠,而该第一耦合装置(620,662,672,682)输入该波长多工多频道光信号及将之于该马赫陈德尔波导输出,该至少一装置(611-618)相位控制包含于该光信号之波长频道,及该第二耦合装置(630,664,674,684)接收该波长选择相位控制光信号及在其任一输出埠(636,638)和该波长频道相位独立输出该光波长频道。34.一种用以波长选择相位控制于一波长多工光信号中一预定波长(i)之信号的方法,其特征在于以下步骤:-接收该波长多工光信号,-将该输入波长多工光信号分离为预定波长(i)之信号及包含实质上该多工中剩余波长之一信号,-相位控制该二分离后信号之一,-组合该分离后相位控制信号及另一分离后信号以形成一波长多工波长选择相位控制光信号,及输出该波长多工波长选择相位控制光信号。图式简单说明:第一图a概略说明依照本发明一第一实施例之波长选择相位控制装置,第一图b概略说明该相位控制装置之相位回应,及第一图c说明该相位控制装置之一MMIMZI架构之频率分离。第二图a概略说明依照本发明一第二实施例之波长选择相位控制装置,第二图b概略说明该相位控制装置之相位回应,及第二图c说明该相位控制装置之一MMIBg架构之频率分离。第三图a概略说明依照本发明一第三实施例之波长选择相位控制,第三图b概略说明该相位控制装置之相位回应,及第三图c说明该相位控制装置之一相位位移布拉格光栅之频率分离。第四图a概略说明依照本发明一第四实施例之波长选择控制装置,第四图b概略说明该相位控制装置之相位回应,及第四图c说明该相位控制装置之一相位位移布拉格光栅之频率分离。第五图a概略说明依照本发明一第五实施例之波长选择相位控制装置,第五图b概略说明该相位控制装置之相位回应,及第五图c说明该相位控制装置之一布拉格光栅之频率分离。第六图a概略说明依照本发明一第六实施例之波长选择相位控制装置,第六图b概略说明该相位控制装置之相位回应,及第六图c说明该相位控制装置之一布拉格光栅之频率分离。第七图a概略说明依照本发明一第七实施例之波长选择控制装置,第七图b概略说明该相位控制装置之相位回应,及第七图c说明该相位控制装置之一布拉格光栅之频率分离。第八图概略说明依照本发明一第八实施例之八频道12开关,包含8个A类型之本发明波长选择相位控制装置。第九图概略说明依照本发明一第九实施例之四频道44开关,包含12个A型之本发明波长选择相位控制装置。第十图概略说明依照本发明一第十实施例之四频道12开关,包含8个B型之本发明波长选择相位控制装置。第十一图概略说明依照本发明一第十一实施例之四频道44开关,包含12个B型之本发明波长选择相位控制装置。第十二图概略说明依照本发明一第十二实施例之波长选择相位控制及调变装置。
地址 瑞典
您可能感兴趣的专利