发明名称 一种检查电路中MOS场效应管栅极悬空的方法及系统
摘要 本发明提供一种检查电路中MOS场效应管栅极悬空的方法及系统,只要在电路的PAD端施加相应的PAD信号,且将施加的PAD信号从该PAD端沿电路的各个支路传导至电路最末端,传导过程中将其他电子元件等效掉,即可判断该PAD信号经过的各个MOS管的栅极电压是否能够受该PAD信号的控制,从而可迅速检查出PAD信号经过的各个MOS管的栅极是否悬空,为电路设计消除隐患。整个检查过程无需对每一个MOS管的栅极连线支路进行追溯,相对简单,检查速度较快,具有较高的检查效率,特别适用于模拟集成电路设计。
申请公布号 CN105137329A 申请公布日期 2015.12.09
申请号 CN201510579418.7 申请日期 2015.09.12
申请人 上海华虹宏力半导体制造有限公司 发明人 曹云;于明
分类号 G01R31/316(2006.01)I 主分类号 G01R31/316(2006.01)I
代理机构 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 代理人 屈蘅
主权项 一种检查电路中MOS场效应管栅极悬空的方法,其特征在于,包括:在所述电路的PAD端接入相应的PAD信号;将所述PAD信号从该PAD端开始,依次经电路的各个元器件传导至该电路的最末端,其中,PAD信号传导至MOS场效应管时,PAD信号将MOS场效应管视作开启状态,并从MOS场效应管的源极S端直接传到漏极D端;判断电路中的MOS场效应管的栅极电压是否受所述PAD信号的控制,若是,则判定该MOS场效应管的栅极G不悬空;若否,则判定该MOS场效应管的栅极G悬空。
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