发明名称 核酸分析装置及使用其的核酸分析方法
摘要 本发明提供一种核酸分析装置及使用其的核酸分析方法,所述核酸分析装置不需要由研究人员那样经高度训练的操作者手动处理,使用容易,能够进行快速解析,小型且能够收容多个样品。该装置及方法的特征在于,使用多个曝光时间进行检测,且提供用于信号检测的阈值的确定程序,对微弱的信号峰是否为假信号的峰进行判别。
申请公布号 CN105143469A 申请公布日期 2015.12.09
申请号 CN201480023164.4 申请日期 2014.05.09
申请人 株式会社日立高新技术 发明人 藤冈满;山崎基博;横山彻
分类号 C12Q1/68(2006.01)I;C12M1/00(2006.01)I 主分类号 C12Q1/68(2006.01)I
代理机构 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 代理人 金鲜英;何杨
主权项 一种核酸分析方法,其特征在于,具有下述工序:对包含多个DNA片段的分析样品照射光的工序,在规定的检测时间内使用摄像元件检测由所述分析样品被激发出的与所述DNA片段对应的荧光的工序,对处于所述摄像元件所具有的能够检测的荧光强度的范围内的、所述分析样品的分析中所需的荧光强度的下限值进行设定的工序,以所述下限值为基础取得每个所述DNA片段的荧光强度的工序,对每个所述DNA片段取得的荧光强度的峰进行检测、并确定与该峰对应的时间信息的工序,以及,对每个所述DNA片段显示所述荧光强度与时间信息的对应关系的工序;在所述显示中显示具有第1荧光强度的第1峰和包含具有比所述第1荧光强度弱的荧光强度的第2峰的至少一个以上的峰时,使用规定值调整所述下限值,将以调整后的所述下限值作为所述摄像元件所具有的下限值进行测定时的荧光强度,作为所述包含第2峰的至少一个以上的峰的荧光强度进行再设定,从而对所述包含第2峰的至少一个以上的峰是否为假信号的峰进行判别。
地址 日本东京都