发明名称 温度校准方法及系统
摘要 本发明提供一种温度校准方法及系统。其中方法包括以下步骤:建立真实温度和被校准温度的预设对应关系数集,并计算各温度偏移量,温度偏移量为相对应的真实温度与被校准温度的差值;读取温控器的预设温度;根据预设对应关系数集计算预设温度对应的实际温度偏移量;温控器根据实际温度偏移量和预设温度控制机台加热。其可保证工艺温度的准确,实现多个不同预设温度的温度校准,在温度校准过程中,通过计算真实温度和被校准温度的差值,得到实际温度偏移量的方式进行,可实现实时温度校准,在工艺加工过程中,实际温度偏移量保持不变,减少了通讯量。
申请公布号 CN105136304A 申请公布日期 2015.12.09
申请号 CN201410225411.0 申请日期 2014.05.26
申请人 北京北方微电子基地设备工艺研究中心有限责任公司 发明人 赵海洋
分类号 G01J5/00(2006.01)I 主分类号 G01J5/00(2006.01)I
代理机构 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 代理人 李芙蓉
主权项 一种温度校准方法,其特征在于,包括以下步骤:温控器控制机台加热;读取所述机台的温度,记作所述机台的真实温度;读取所述温控器的输出温度,记作所述机台的被校准温度;所述真实温度至少为一个,所述被校准温度至少为一个;将所述真实温度和所述被校准温度一一对应记录下来,建立所述真实温度和所述被校准温度的预设对应关系数集,并计算各温度偏移量,所述温度偏移量为相对应的所述真实温度与所述被校准温度的差值;读取所述温控器的预设温度;根据所述预设对应关系数集计算所述预设温度对应的实际温度偏移量;所述温控器根据所述实际温度偏移量和所述预设温度控制所述机台加热。
地址 100176 北京市大兴区北京经济技术开发区文昌大道8号