发明名称 |
传感装置及监测应力和温度的方法 |
摘要 |
本发明涉及一种传感装置及监测应力和温度的方法,该装置包括:传感基板、光学双折射介质、光源、线性光学起偏器、干涉仪、处理器,该装置和方法根据偏振串扰峰之间的间距变化以获得所述光学双折射介质的温度变化,根据偏振串扰峰的峰值获得所述光学双折射介质的应力和/或应变。这样可以利用同一个光学双折射介质来对待测物体进行应力、应变和温度的监测,并且应力、应变和温度变化之间不会相互影响。 |
申请公布号 |
CN105115436A |
申请公布日期 |
2015.12.02 |
申请号 |
CN201510471900.9 |
申请日期 |
2015.08.04 |
申请人 |
苏州光环科技有限公司;北京高光科技有限公司;通用光讯光电技术(北京)有限公司 |
发明人 |
姚晓天 |
分类号 |
G01B11/16(2006.01)I;G01K1/00(2006.01)I;G01K11/32(2006.01)I;G01D21/02(2006.01)I |
主分类号 |
G01B11/16(2006.01)I |
代理机构 |
广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 |
代理人 |
唐清凯 |
主权项 |
一种监测应力和温度的方法,其特征在于,包括以下步骤:耦合宽频带的线偏振光进入光学双折射介质,所述线偏振光沿所述光学双折射介质的两个正交偏振模传输,所述光学双折射介质输出光学输出信号;引导所述光学输出信号通过线性光学起偏器,所述起偏器将所述光学输出信号的两正交偏振模相互混合;引导所述光学起偏器产生的线偏振光进入干涉仪,从而获得两个正交偏振模之间的干涉,以产生偏振串扰峰;根据偏振串扰峰之间的间距变化以获得所述光学双折射介质的温度变化,根据偏振串扰峰的峰值获得所述光学双折射介质的应力和/或应变。 |
地址 |
215000 江苏省苏州市工业园区星湖街328号创意产业园1-B202单元 |