发明名称 光电探测器参数测试夹具及测试方法
摘要 本发明公开了一种光电探测器参数测试夹具及测试方法,包括固定部分和活动部分,固定部分包括金属屏蔽盒和安装在金属屏蔽盒内的印制板,金属屏蔽盒左侧有数据接口,右侧有连接插座;活动部分包括印制板、盖板和夹持装置,所述印制板安装在盖板背面,印制板上有连接插头和测试座,连接插头与所述连接插座相互配合,盖板上有定位柱和手动螺钉,夹持装置安装在盖板左侧,夹持装置上有光输入接口和手动螺钉;固定部分靠手动螺钉连接安装在活动部分左侧。本夹具的活动部分为可更换部分,可根据不同光电探测器进行更换,提高了本夹具的通用性。本发明还提供了光电探测器的测试方法,该测试方法简化了操作步骤,提高测试效率,有效避免操作失误。
申请公布号 CN103674485B 申请公布日期 2015.12.02
申请号 CN201310726436.4 申请日期 2013.12.25
申请人 中国电子科技集团公司第四十一研究所 发明人 吴仲;孙桂清
分类号 G01M11/00(2006.01)I 主分类号 G01M11/00(2006.01)I
代理机构 蚌埠鼎力专利商标事务所有限公司 34102 代理人 王琪
主权项 光电探测器参数测试夹具,包括固定部分和活动部分,其特征在于:固定部分包括金属屏蔽盒和安装在金属屏蔽盒内部的印制板,金属屏蔽盒左侧有数据接口,金属屏蔽盒右侧有连接插座;活动部分包括印制板、盖板和夹持装置,所述印制板安装在盖板背面,印制板上有连接插头和测试座,所述连接插头与所述连接插座相互配合,盖板上有定位柱和手动螺钉,夹持装置安装在盖板左侧,夹持装置上有光输入接口和手动螺钉;固定部分靠手动螺钉连接安装在活动部分左侧;所述测试座由绝缘柱体和铜制插针组成,绝缘柱体入口处为锥型结构,铜制插针为内通孔结构,铜制插针表面镀制了硬金。
地址 233006 安徽省蚌埠市长征路726号101信箱
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