集成电路电源噪声测量系统

摘要

本发明涉及一种集成电路电源噪声测量系统，包括：嵌入在待测芯片上的片上测试单元，用于对所述待测芯片在测试向量的作用下产生的电源噪声信号进行采样与保持，并根据延迟线芯片的延迟信号控制采样时间；模数转换芯片，用于对所述电源噪声信号进行模数转换，获得多位宽的数字化电源噪声信号；FPGA芯片，用于向所述待测芯片施加所述测试向量，并接收所述数字化电源噪声信号；所述延迟线芯片，用于在所述FPGA芯片的控制下产生延迟信号，并向所述片上测试单元发送所述延迟信号。本发明提高了测量的信噪比，且能有效提高对电源噪声信号高频部分的响应能力。

主权项

一种集成电路电源噪声测量系统，其特征在于，包括：嵌入在待测芯片上的片上测试单元，用于对所述待测芯片在测试向量的作用下产生的电源噪声信号进行采样与保持，并根据延迟线芯片的延迟信号控制采样时间；模数转换芯片，用于对所述电源噪声信号进行模数转换，获得多位宽的数字化电源噪声信号；FPGA芯片，用于向所述待测芯片施加所述测试向量，并接收所述数字化电源噪声信号；所述延迟线芯片，用于在所述FPGA芯片的控制下产生延迟信号，并向所述片上测试单元发送所述延迟信号。