发明名称 用于检测接触效果的探针模组
摘要 本发明公开了一种用于检测接触效果的探针模组,在液晶配向过程中,用于检测其自身与液晶面板的基板外部测试线路的接触效果,包括:至少两个相互之间绝缘的可伸缩探针;与至少两个相互之间绝缘的可伸缩探针电连接的电阻监控装置,其通过监控至少两个相互之间绝缘的可伸缩探针之间的电阻来判断至少两个相互之间绝缘的可伸缩探针与接触面的接触效果。本发明的探针模组由于与接触目标有多个接触点,且多个接触点之间是相互独立的,因此利用该探针模组的电阻监控装置,能够根据测量得到的多个探针之间的电阻值及时判定探针与接触目标之间的接触效果,以消除现有液晶配向过程中由于监控的电流异常而进行原因查找处理的时间。
申请公布号 CN103323635B 申请公布日期 2015.12.02
申请号 CN201310250571.6 申请日期 2013.06.21
申请人 深圳市华星光电技术有限公司 发明人 宋涛;赵国栋;刘明;马涛
分类号 G01R1/073(2006.01)I;G02F1/13(2006.01)I;G02F1/1337(2006.01)I 主分类号 G01R1/073(2006.01)I
代理机构 北京聿宏知识产权代理有限公司 11372 代理人 吴大建;刘华联
主权项 一种用于检测接触效果的探针模组,在液晶配向过程中,用于检测其自身与液晶面板的基板外部测试线路的接触效果,包括:至少两个相邻的且相互之间绝缘的可伸缩探针;与所述至少两个相邻的且相互之间绝缘的可伸缩探针电连接的电阻监控装置,其通过监控所述至少两个相邻的且相互之间绝缘的可伸缩探针之间的电阻来判断所述至少两个相邻的且相互之间绝缘的可伸缩探针与接触面的接触效果,消除液晶配向过程中由于监控的电流异常而进行原因查找处理的时间。
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