外部配線を使用してダイ信号をラウティングするための方法および装置

摘要

外部配線（２０２＋２２２＋２１２）を使用してダイ（１５２）の内側部分においてダイ信号をラウティングするためのアプローチの様々な態様が本明細書で説明される。このアプローチは、ダイ（１５２）の内側部分の回路に結合されたコンタクト（１０２，１１２）を提供し、これらのコンタクト（１０２，１１２）はダイ（１５２）の外側部分に露出している。外部配線（２０２＋２２２＋２１２）は、ダイ（１５２）の内側部分の回路からの信号が外部からダイ（１５２）にラウティングされそれらをダイ（１５２）に再挿入するために、これらのコンタクト（１０２，１１２）を結合するように構成される。開示されるアプローチの様々な態様では、外部配線（２０２＋２２２＋２１２）は、ダイ（１５２）のためのパッケージング（２５２）によって保護される。テストモード中に回路を結合するように構成されたテスト回路は、ダイ（１５２）の内側部分で予見される。【選択図】 図１