| 摘要 |
<p>Bei dem Frequenzumrichter (4) wird vorgeschlagen, für die Halbleiterschalter (T1, T2, T3, T4, T5, T6) ein maximale thermische Belastung wiederkehrend zu ermitteln, wobei eine Einschaltdauer und/oder ein Sternpunkt-Spannungspotential zumindest für denjenigen Halbleiterschalter (T1, T2, T3, T4, T5, T6), für welchen die thermische Belastung maximal ist, derart verändert wird, dass die thermische Belastung für diesen Halbleiterschalter (T1, T2, T3, T4, T5, T6) und/oder einem diesem zugeordneten Halbleiterbauelement (D1, D2, D3, D4, D5, D6) verringert ist.</p> |
