发明名称 |
Verbesserte Strommessung eines Isolierschicht-Bipolar-Transistors (IGBT) mit Emittermessung |
摘要 |
Offenbart werden ein Steuerungsschaltkreis und ein Verfahren zum Steuern eines Isolierschicht-Bipolartransistors (IGBT) mit Strommessung. Insbesondere erzeugt der Strommess-IGBT Spannungsnadelimpulse in einer Messspannung als ein Ergebnis von normalen Schaltvorgängen. Der Steuerungsschaltkreis erzeugt einen Ausblendzeitraum, so dass die Spannungsnadelimpulse ignoriert werden und Fehlmessungen von Kurzschlussereignissen vermieden werden. |
申请公布号 |
DE102015108184(A1) |
申请公布日期 |
2015.11.26 |
申请号 |
DE201510108184 |
申请日期 |
2015.05.22 |
申请人 |
AVAGO TECHNOLOGIES GENERAL IP (SINGAPORE) PTE. LTD. |
发明人 |
ZHANG, BIN;KWA, HOCK TIONG |
分类号 |
H03K17/082 |
主分类号 |
H03K17/082 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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