发明名称 Verbesserte Strommessung eines Isolierschicht-Bipolar-Transistors (IGBT) mit Emittermessung
摘要 Offenbart werden ein Steuerungsschaltkreis und ein Verfahren zum Steuern eines Isolierschicht-Bipolartransistors (IGBT) mit Strommessung. Insbesondere erzeugt der Strommess-IGBT Spannungsnadelimpulse in einer Messspannung als ein Ergebnis von normalen Schaltvorgängen. Der Steuerungsschaltkreis erzeugt einen Ausblendzeitraum, so dass die Spannungsnadelimpulse ignoriert werden und Fehlmessungen von Kurzschlussereignissen vermieden werden.
申请公布号 DE102015108184(A1) 申请公布日期 2015.11.26
申请号 DE201510108184 申请日期 2015.05.22
申请人 AVAGO TECHNOLOGIES GENERAL IP (SINGAPORE) PTE. LTD. 发明人 ZHANG, BIN;KWA, HOCK TIONG
分类号 H03K17/082 主分类号 H03K17/082
代理机构 代理人
主权项
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