一种芯片测试的方法和系统

摘要

本发明提供一种芯片测试的方法和系统，方法包括：按行读入自动测试设备的存储器中的测试向量源文件；将所述测试向量源文件的所有行都记录到新文件，其中对于连续重复的至少两个测试向量数据行，仅将所述至少两个测试向量数据行中的第一行和重复的次数记录到所述新文件；在芯片测试过程中，载入所述新文件，依据所述重复的次数重复执行所述第一行。本发明能够减少测试向量源文件的体积，节省内存提高ATE的测试速度，解决现有技术测试向量源文件耗费了大量的时间和内存资源，测试效率低下的技术问题。

主权项

一种芯片测试的方法，其特征在于，包括如下步骤：按行读入自动测试设备的存储器中的测试向量源文件；将所述测试向量源文件的所有行都记录到新文件，通过repeat语句来执行重复操作并且标志当前行是否已经压缩过，其中对于连续重复的至少两个测试向量数据行，仅将所述至少两个测试向量数据行中的第一行和重复的次数记录到所述新文件；在芯片测试过程中，载入所述新文件，依据所述重复的次数重复执行所述第一行。