| 发明名称 | 射线探测方法、装置、探测器组件和射线探测器 | ||
| 摘要 | 本发明提出一种射线探测方法、装置、探测器组件和射线探测器，涉及辐射成像领域。其中，本发明的射线探测方法包括：获取探测器组件中各个转换层的基本探测数据，其中，探测器组件包括多个层叠排列的转换层，每个转换层用于探测预定探测范围的能量；基于多个转换层的基本探测数据的组合获取预定探测等级的射线探测数据。通过这样的方法，能够根据探测等级的需要，基于多个转换层的基本探测数据，根据符合预定探测等级的转换层的基本探测数据获取预定探测等级的射线探测数据，从而实现了根据探测的需要灵活探测不同能量等级的能量。 | ||
| 申请公布号 | CN105093255A | 申请公布日期 | 2015.11.25 |
| 申请号 | CN201510568491.4 | 申请日期 | 2015.09.09 |
| 申请人 | 同方威视技术股份有限公司;清华大学 | 发明人 | 张清军;王燕春;李元景;陈志强;赵自然;刘以农;刘耀红;朱维彬;李树伟;孙立风;王钧效 |
| 分类号 | G01T1/20(2006.01)I | 主分类号 | G01T1/20(2006.01)I |
| 代理机构 | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人 | 孙宝海 |
| 主权项 | 一种射线探测方法，其特征在于，获取探测器组件中各个转换层的基本探测数据，其中，所述探测器组件包括多个层叠排列的转换层，每个转换层用于探测预定探测范围的能量；基于多个所述转换层的基本探测数据的组合获取预定探测等级的射线探测数据。 | ||
| 地址 | 100084 北京市海淀区双清路同方大厦A座2层 | ||