用于检测元件反白的自动光学检测方法

摘要

本发明涉及一种用于检测元件反白的自动光学检测方法，按照下述步骤进行：一、光源和摄像头皆位于被测物放置点的正上方，光源垂直向下照射；二、通过人机交互界面进行反白参数设置，所述反白参数包括反白亮度值和反白面积百分比值；三、启动光源和摄像头获取被测物图像；四、利用Solder框框住图像上的元件本体，将此框住元件本体的框定义为检测框；五、对检测框内的图形进行亮度分析，当检测框内亮度超过所述反白亮度值的面积与检测框的面积的百分比值达到所述反白面积百分比值时，则判定元件反白。本发明利用了反白元件在图像上显示的亮度不同的原理，通过对元件亮度的检验，来判定元件是否反白，从而实现元件反白的AOI检测。

主权项

一种用于检测元件反白的自动光学检测方法，其特征在于：按照下述步骤进行：一、光源和摄像头皆位于被测物放置点的正上方，光源垂直向下照射；二、通过人机交互界面进行反白参数设置，所述反白参数包括反白亮度值和反白面积百分比值；三、启动光源和摄像头获取被测物图像；四、利用Solder框框住图像上的元件本体，将此框住元件本体的框定义为检测框；五、对检测框内的图形进行亮度分析，当检测框内亮度超过所述反白亮度值的面积与检测框的面积的百分比值达到所述反白面积百分比值时，则判定元件反白。