发明名称 倒装芯片型半导体背面用膜、半导体背面用条状膜的生产方法和倒装芯片型半导体器件
摘要 本发明涉及倒装芯片型半导体背面用膜,其要形成于倒装芯片连接至被粘物上的半导体元件的背面,所述倒装芯片型半导体背面用膜具有在1到8×10<sup>3</sup>(%/GPa)的范围内的比率A/B,其中A是倒装芯片型半导体背面用膜在热固化前在23℃下的伸长率(%),和B是倒装芯片型半导体背面用膜在热固化前在23℃下的拉伸贮能模量(GPa)。
申请公布号 CN102382585B 申请公布日期 2015.11.25
申请号 CN201110212301.7 申请日期 2011.07.27
申请人 日东电工株式会社 发明人 志贺豪士;高本尚英;浅井文辉
分类号 C09J7/02(2006.01)I;H01L23/29(2006.01)I 主分类号 C09J7/02(2006.01)I
代理机构 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 代理人 刘新宇;李茂家
主权项 一种倒装芯片型半导体背面用膜,其要形成于倒装芯片连接至被粘物上的半导体元件的背面,所述倒装芯片型半导体背面用膜具有以%/GPa计的在1至8×10<sup>3</sup>的范围内的比率A/B,其中A是所述倒装芯片型半导体背面用膜在热固化前在23℃下的以%计的伸长率,和B是所述倒装芯片型半导体背面用膜在热固化前在23℃下的以GPa计的拉伸贮能模量,其中所述倒装芯片型半导体背面用膜含有环氧树脂和酚醛树脂,和其中基于所述倒装芯片型半导体背面用膜的总树脂组分,所述环氧树脂和所述酚醛树脂的总量在5重量%至90重量%的范围内;所述倒装芯片型半导体背面用膜含有着色剂,在温度85℃和湿度85%RH的气氛下放置168小时后,所述倒装芯片型半导体背面用膜具有1重量%以下的吸湿率。
地址 日本大阪府