发明名称 电子加密装置的测试方法、系统
摘要 本发明提供了一种电子加密装置的测试方法、系统,该测试方法包括:使电子加密装置执行第一加解密运算,采集第一功耗模拟信号,并对第一功耗模拟信号进行模数转换,以获取执行第一加解密运算的第一运算总个数;使电子加密装置执行第二加解密运算,同时向电子加密装置注入故障使电子加密装置的密钥的数据位翻转,采集第二功耗模拟信号,并对第二功耗模拟信号进行模数转换,以获取执行第二加解密运算的第二运算总个数;如果第二运算总个数大于第一运算总个数,则数据位为0;获取密钥的所有未知数据位分别为1或0,以获取密钥的测试值;确认测试值为密钥的真实值。本发明提出了一种同时采用SPA和DFA攻击方式以测试电子加密装置安全性的方法。
申请公布号 CN105095739A 申请公布日期 2015.11.25
申请号 CN201410204410.8 申请日期 2014.05.14
申请人 国民技术股份有限公司 发明人 王宇建;樊俊锋;陈诗平;唐有;谭锐能
分类号 G06F21/46(2013.01)I;H04L9/06(2006.01)I 主分类号 G06F21/46(2013.01)I
代理机构 深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙) 44280 代理人 何青瓦
主权项 一种电子加密装置的测试方法,其特征在于,包括: 使所述电子加密装置执行第一加解密运算,采集第一功耗模拟信号,并对所述第一功耗模拟信号进行模数转换,以获取执行所述第一加解密运算的第一运算总个数; 使所述电子加密装置执行第二加解密运算,同时向所述电子加密装置注入故障使所述电子加密装置的密钥的数据位翻转,采集第二功耗模拟信号,并对所述第二功耗模拟信号进行模数转换,以获取执行所述第二加解密运算的第二运算总个数; 如果判断所述第二运算总个数大于所述第一运算总个数,则所述数据位为0;反之,则所述数据位为1; 获取所述密钥的所有未知数据位分别为1或0,以获取所述密钥的测试值; 确认所述测试值为所述密钥的真实值。 
地址 518057 广东省深圳市南山区高新技术产业园区深圳软件园3栋301、302