| 发明名称 | 晶片电阻四工位检测与切割装置 | ||
| 摘要 | 1．本外观设计产品的名称：晶片电阻四工位检测与切割装置。2．本外观设计产品的用途：本外观设计产品用于检测与切割有缺陷晶片电阻。3．本外观设计产品的设计要点：在于整体外观设计。4．最能表明本外观设计设计要点的图片或照片：主视图。 | ||
| 申请公布号 | CN303464986S | 申请公布日期 | 2015.11.25 |
| 申请号 | CN201530237327.6 | 申请日期 | 2015.07.06 |
| 申请人 | 昆山市和博电子科技有限公司 | 发明人 | 李刚;何志峰 |
| 分类号 | 10-05(10);15-09(10) | 主分类号 | 10-05(10) |
| 代理机构 | 代理人 | ||
| 主权项 | |||
| 地址 | 215000 江苏省苏州市昆山市玉城北路9号 | ||