| 发明名称 | 提取有机发光器件的关联曲线的系统和方法 | ||
| 摘要 | 本发明涉及用于确定基于阵列的半导体器件中的有机发光器件(OLED)的效率劣化的系统，所述半导体器件具有像素的阵列，且所述像素包括OLED。在所述系统中，针对至少一个应力条件，确定所述OLED的电学运行参数的变化与所述OLED的所述效率劣化之间的关系；测量所述OLED的所述电学运行参数的变化；确定所述半导体器件中的至少一个像素或像素组的应力条件；以及通过使用所确定的关系和所确定的应力条件，确定所述OLED的与所述OLED的所述电学运行参数的所测量的变化相对应的所述效率劣化。 | ||
| 申请公布号 | CN105097872A | 申请公布日期 | 2015.11.25 |
| 申请号 | CN201510267035.6 | 申请日期 | 2015.05.22 |
| 申请人 | 伊格尼斯创新公司 | 发明人 | 戈尔拉玛瑞扎·恰吉 |
| 分类号 | H01L27/32(2006.01)I;H01L21/66(2006.01)I | 主分类号 | H01L27/32(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京信慧永光知识产权代理有限责任公司 11290 | 代理人 | 曹正建;陈桂香 |
| 主权项 | 一种用于确定基于阵列的半导体器件中的有机发光器件(OLED)的效率劣化的方法，所述半导体器件具有像素的阵列，且所述像素包括OLED，所述方法包括：针对至少一个应力条件，确定所述OLED的电学运行参数的变化与所述OLED的所述效率劣化之间的关系；测量所述OLED的所述电学运行参数的变化；确定所述半导体器件中的至少一个像素或像素组的应力条件；以及通过使用所确定的关系和所确定的应力条件，确定所述OLED的与所述OLED的所述电学运行参数的所测量的变化相对应的所述效率劣化。 | ||
| 地址 | 加拿大安大略 | ||