发明名称 识别彩膜基板上隔垫物的方法及隔垫物高度的测量方法
摘要 本发明提供一种识别彩膜基板上隔垫物的方法及隔垫物高度的测量方法,该识别彩膜基板上隔垫物的方法,通过移动CCD相机的镜头进行对焦的方式来识别主间隔物与辅助间隔物,该方法简单易行,适用范围广,不影响产品开口率,能准确识别主隔垫物与辅助隔垫物,提高生产效率。该隔垫物高度的测量方法,通过移动CCD相机的镜头进行对焦的方式来识别主间隔物与辅助间隔物,记录主间隔物与辅助间隔物的坐标,准确测量主隔垫物与辅助隔垫物的高度,从而保证液晶显示器的质量。
申请公布号 CN105093581A 申请公布日期 2015.11.25
申请号 CN201510486308.6 申请日期 2015.08.10
申请人 武汉华星光电技术有限公司 发明人 伊文超;周笛;黄华;苏军;徐先华;熊燕军
分类号 G02F1/13(2006.01)I;G02F1/1339(2006.01)I 主分类号 G02F1/13(2006.01)I
代理机构 深圳市德力知识产权代理事务所 44265 代理人 林才桂
主权项 一种识别彩膜基板上隔垫物的方法,其特征在于,包括如下步骤:步骤1、提供待测量的彩膜基板及CCD相机(5),所述彩膜基板包括基板(1)、设在基板(1)上的主隔垫物(2)、及辅助隔垫物(3),所述主隔垫物(2)的高度大于辅助隔垫物(3)的高度;步骤2、使用CCD相机(5)对所述主隔垫物(2)、及辅助隔垫物(3)进行俯拍;步骤3、下降CCD相机(5)的镜头进行对焦,直至获得第一个清晰的隔垫物图像,该第一个被拍摄到清晰图像的隔垫物为主隔垫物(2),仍为模糊图像的隔垫物为辅助隔垫物(3)。
地址 430070 湖北省武汉市东湖开发区高新大道666号生物城C5栋
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