发明名称 |
一种卫星杂散光的测试方法 |
摘要 |
一种卫星杂散光的测试方法,包括:获取卫星观测点太阳光照变化范围;选取大气辐射传输模型;获取卫星在轨各观测方向辐亮度全年变化;使卫星受模拟光源照射情况能够覆盖卫星在轨辐亮度全年变化的情况;载荷背景成像测试获取暗室造成的杂散辐射;进行太阳直射抑制能力测试;进行星体表面的杂散辐射测量;计算每个像元的抑制比PST,验证载荷在轨杂散光抑制能力、识别出星体关键表面。本发明提供的方法,能够切实可行的用于卫星杂散光抑制分析验证的整星级杂散光测试。 |
申请公布号 |
CN105095608A |
申请公布日期 |
2015.11.25 |
申请号 |
CN201510604799.X |
申请日期 |
2015.09.21 |
申请人 |
上海卫星工程研究所 |
发明人 |
杨春燕;汪少林;程卫强;田华;崔伟;程静;马文佳;毕建峰;杨珺 |
分类号 |
G06F17/50(2006.01)I |
主分类号 |
G06F17/50(2006.01)I |
代理机构 |
上海汉声知识产权代理有限公司 31236 |
代理人 |
郭国中;樊昕 |
主权项 |
一种卫星杂散光的测试方法,其特征在于,包括如下:步骤S1,根据星上载荷在轨观测预定方案建立卫星观测模型,进行卫星轨道仿真,获取卫星观测点太阳光照角变化范围;步骤S2,选择大气辐射传输模型,将步骤S1中卫星观测点太阳光照角仿真数据带入模型,并进行其他大气模型参数设定;步骤S3,进行大气辐射传输运算,获取载荷在轨各观测方向辐亮度全年变化数据;步骤S4,建立卫星与太阳模拟光源在测试暗室内的相互位置关系,太阳模拟光源光斑面积、辐照度以及到卫星的入射光线方向需可调,以实现卫星在轨各观测方向上辐亮度全年变化情况的模拟;步骤S5,进行背景成像测试,所述背景成像测试时光源不直射卫星对地面,载荷对暗室内消光器成像,测得暗室造成的杂散辐射;步骤S6,进行太阳直射抑制能力测试,太阳直射抑制能力测试时,需按卫星在轨状态,太阳模拟光线从不同角度直射卫星对地面,载荷对暗室内消光器成像,测得由太阳直射星体表面导致的杂散辐射及每个像元对太阳光线的抑制比PST;步骤S7,进行星体关键表面测试,星体关键表面测试时,太阳模拟光源对每个预设表面进行多个角度的照射,载荷对暗室内消光器成像,测得由预设表面引起的杂散辐射及每个像元的抑制比PST;步骤S8,完成测试,验证载荷在轨杂散光抑制能力,识别出星体关键表面。 |
地址 |
200240 上海市闵行区华宁路251号 |