发明名称 |
一种电子元器件加速贮存试验工装 |
摘要 |
本实用新型属于加速贮存试验技术领域,具体涉及一种中小型电子元器件加速贮存试验工装。技术方案:为正方形或长方形的平板,平板的边长为200mm~300mm,平板的厚度为10~15mm,平板的材质为玻璃钢;平板上均布多个元器件安装处,元器件安装处为突出于平板表面的圆形、方形、或长圆形的沟或槽结构,待测元器件安装在元器件安装处内;元器件安装处的左上角具有编号。有益效果:本实用新型针对中小型电子元器件外形的共性特点,设计了一类可以承受加速贮存环境应力的试验工装,能够有效解决电子元器件在加速贮存试验的过程中样本编号、绝缘、隔离等问题。 |
申请公布号 |
CN204776668U |
申请公布日期 |
2015.11.18 |
申请号 |
CN201520433257.6 |
申请日期 |
2015.06.23 |
申请人 |
北京强度环境研究所;中国运载火箭技术研究院 |
发明人 |
邹粟;陈津虎;胡恩来;杨学印;辛克浩 |
分类号 |
B65D71/70(2006.01)I;G01N17/00(2006.01)I |
主分类号 |
B65D71/70(2006.01)I |
代理机构 |
核工业专利中心 11007 |
代理人 |
王洁 |
主权项 |
一种电子元器件加速贮存试验工装,其特征在于:为正方形或长方形的平板(1),平板(1)的边长为200mm~300mm,平板(1)的厚度为10~15mm,平板(1)的材质为玻璃钢;平板(1)上均布多个元器件安装处(2),元器件安装处(2)为凹陷于平板(1)表面的圆形、方形或长圆形的沟或槽结构;元器件安装处(2)的左上角具有编号。 |
地址 |
100076 北京市丰台区南大红门路1号 |