发明名称 一种电子元器件加速贮存试验工装
摘要 本实用新型属于加速贮存试验技术领域,具体涉及一种中小型电子元器件加速贮存试验工装。技术方案:为正方形或长方形的平板,平板的边长为200mm~300mm,平板的厚度为10~15mm,平板的材质为玻璃钢;平板上均布多个元器件安装处,元器件安装处为突出于平板表面的圆形、方形、或长圆形的沟或槽结构,待测元器件安装在元器件安装处内;元器件安装处的左上角具有编号。有益效果:本实用新型针对中小型电子元器件外形的共性特点,设计了一类可以承受加速贮存环境应力的试验工装,能够有效解决电子元器件在加速贮存试验的过程中样本编号、绝缘、隔离等问题。
申请公布号 CN204776668U 申请公布日期 2015.11.18
申请号 CN201520433257.6 申请日期 2015.06.23
申请人 北京强度环境研究所;中国运载火箭技术研究院 发明人 邹粟;陈津虎;胡恩来;杨学印;辛克浩
分类号 B65D71/70(2006.01)I;G01N17/00(2006.01)I 主分类号 B65D71/70(2006.01)I
代理机构 核工业专利中心 11007 代理人 王洁
主权项 一种电子元器件加速贮存试验工装,其特征在于:为正方形或长方形的平板(1),平板(1)的边长为200mm~300mm,平板(1)的厚度为10~15mm,平板(1)的材质为玻璃钢;平板(1)上均布多个元器件安装处(2),元器件安装处(2)为凹陷于平板(1)表面的圆形、方形或长圆形的沟或槽结构;元器件安装处(2)的左上角具有编号。
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