基于同位素稀释质谱定量的放射性核素半衰期测定方法

摘要

本发明提供基于同位素稀释质谱定量的放射性核素半衰期测定方法，采用同位素质谱的方法，重点目标瞄准半衰期为1年至10³年(有特殊需求情况下，可通过调整存放时间拓展至半衰期为数月或10⁴年以上)的核素，本发明基于母子体的放化分离和质谱测试技术，通过高精度测定放射性核素在存放时间内含量的变化计算核素的半衰期，回避了放射性射线分之比、效率校正等过程可能产生的不确定度，提高了部分放射性核素半衰期测量的准确度。

主权项

基于同位素稀释质谱定量的放射性核素半衰期的测定方法，其特征在于：包括以下步骤：1)取半衰期大于1年的放射性核素，配置成溶液；或直接取半衰期大于1年的放射性核素溶液；2)在溶液中分别添加放射性核素母核同位素稀释剂，采用放化分离纯化技术，制备该放射性核素溶液中母体元素溶液样品；3)采用同位素稀释质谱法，测定母体元素溶液样品中放射性核素母核的核数含量N₁；4)经存放时间t后，再次进行放射性溶液的纯化和同位素稀释质谱法定量，测定母核的核数含量N₂；其中的时间t大于该放射性核素半衰期的1％；5)由两次定量结果和准确记录的存放时间t，由下式计算该核素半衰期：$T_{1/2}=\frac{t\ln \left(2\right)}{\ln \left(N_1/N_2\right)}.$