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프로브 카드 시험용 전환 카드에 있어서, 판체, 판체에 설치된 다수의 제1 전송 유닛, 다수의 제2 전송 유닛 및 직류/교류 전환 회로를 포함하고, 제1 전송 유닛은 시험 기기에 전기적으로 연결되고, 제2 전송 유닛은 프로브 카드 인터페이스에 전기적으로 연결되며, 직류/교류 전환 회로는 상기 제1 전송 유닛, 상기 제2 전송 유닛에 전기적으로 연결된다. 제1 전송 유닛에 의해 교류 신호를 전송하고 교류 신호를 직류/교류 전환 회로, 제2 전송 유닛, 프로브 카드 인터페이스를 거쳐 직류 프로브 카드에 연결한다. 교류 회로 및 전송선의 원리를 이용하고 로직 분석기, 오실로스코프, 시간 도메인 반사계, 주파수 도메인 네트워크 분석기, 오류 코드 발생기, 아이 다이어그램 분석기 등 교류 신호 시험 기기를 결합하고 교류 방식을 이용하여 직류 전기 프로브 카드에 대해 오류 분석 시험 및 개선을 진행하여, 프로브 카드의 오류율을 오판하는 것을 피함으로써, 카드 교체율과 프로브 세정율을 낮추고, 직류 프로브 카드의 재고율을 낮춘다. |
